SEMICON JAPAN 2025
- 参加部署:産業機械第一部
- 会期:2025年12月17日 10:00~2025年12月19日 17:00
- 会場:東京ビッグサイト 1階 西展示棟 (ブース:W2716)
- 主催:SEMIジャパン
- 出展内容:
Sentronics Metrology 製 ウェハ多機能測定装置
DIP View 製 ウェハ検査・測定装置
E+H Metrology 製 ウェハ厚さ、抵抗値測定装置
アテル 製 ウェハ外観検査装置
オプティテック 製 欠陥検出装置ED-Scope
Nanosurf 製 高速AFMシステム
Global ZEUS 製 RTP装置
E&R 製 ガラスコア基板用TGV装置(レーザー加工装置、プラズマ加工装置)
Hua Yang 製 TGVスルーホールAOI検査装置
Group Up 製 アドバンスドパッケージングラミネータ
Easy Field 製 ウェハカセット自動梱包装置
FlowVIEW 製 液中粒子測定・分析装置 - リンク先:https://www.semiconjapan.org/jp/
